文件名称:
掠入射X射线荧光与X射线反射综合表征多层膜结构
开发工具:
文件大小: 678kb
下载次数: 0
上传时间: 2019-12-28
详细说明:掠入射X射线荧光与X射线反射综合表征多层膜结构,杨晓月,李文斌,掠入射x射线荧光与x射线反射率是一种综合分析薄膜材料结构的表征方法。应用此技术不仅可以进行元素分析,而且可以给出膜层的厚度�
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