开发工具:
文件大小: 83kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-10-19
详细说明：所有现代SoC都使用扫描结构来检测设计中是否存在制造缺陷。扫描链的目的就是用于测试并按照串行顺序连接芯片的时序元件。然而，随着现代SOC几何尺寸不断缩小及复杂性不断增加，如今已能将数百万个晶体管集成到单一芯片之中。因此，时序元件总数与可用的扫描IO总数之比在不断增加。而测试仪的成本(测试仪使用时间)高昂，传统的扫描结构已不足以支持这些复杂的SoC。压缩逻辑被看作是针对上述问题的解决方案，但它在逻辑合成阶段却带来了扫描拼接方面的新挑战。我们将详细讨论这些挑战和针对这些扫描拼接问题的解决方案，但在此之前，我们先通过一个示例来了解对压缩逻辑的需求。
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)
下载文件列表
相关说明
- 本站资源为会员上传分享交流与学习,如有侵犯您的权益,请联系我们删除.
- 本站是交换下载平台，提供交流渠道，下载内容来自于网络，除下载问题外，其它问题请自行百度。
- 本站已设置防盗链，请勿用迅雷、QQ旋风等多线程下载软件下载资源，下载后用WinRAR最新版进行解压.
- 如果您发现内容无法下载，请稍后再次尝试；或者到消费记录里找到下载记录反馈给我们.
- 下载后发现下载的内容跟说明不相乎，请到消费记录里找到下载记录反馈给我们，经确认后退回积分.
- 如下载前有疑问，可以通过点击"提供者"的名字，查看对方的联系方式，联系对方咨询.
