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文件名称: 模拟技术中的放大器电气过应力EOS问题分析
  所属分类: 其它
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  文件大小: 357kb
  下载次数: 0
  上传时间: 2020-11-06
  提 供 者: weixin_********
 详细说明:当我们考虑出现EOS问题的放大器时,可能会想到静电放电 (ESD) 。ESD使放大器引脚面临短时、高压、放电问题。第二种(通常会被人们忽略)过应力条件是 EOS 。EOS使放大器面临相对于 ESD 较低的过压和电流,但持续时间更长。看完本文后,您就会对潜在放大器 EOS 状态有所了解,并知道解决这一问题的方法。利用这种方法,您就能够设计防止电气过应力损坏、稳健的集成电路外部系统。破坏性的静电放电事件   电气过应力的一个明显起因是 ESD。当两个物体 (body) 极为接近,且处于不同静电位下(几百伏或数千伏)时,便存在发生 ESD 的可能性。若两个物体之间出现传导路径,则会发生静电荷转移。
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