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文件名称: 嵌入式系统/ARM技术中的基于JTAG的调试系统结构
  所属分类: 其它
  开发工具:
  文件大小: 92kb
  下载次数: 0
  上传时间: 2020-11-13
  提 供 者: weixin_********
 详细说明:基于JTAG的调试系统结构如图1所示,它包括3部分:位于主机上的调试器,例如ARM公司的ADW等:包括硬件嵌入式调试部件的目标系统;在主机和目标系统之间进行协议分析、转换的模块。下面分别介绍这些组成部分。   位于主机上的调试器主要用于接收用户的命令,并将其发送到目标系统中的调试部件;接收从目标系统返回的饿数据,并以一定的格式显示给用户。   目标系统的结构如图2所示,它主要包括下面3部分。   (1)需要进行调试的处理器内核。   (2)EmbeddedICE逻辑电路。包括一组寄存器和比较器,可以用来产生调试时需要的异常中断,如产生断点等。   (3)TAP控制器。可以通过JTAG
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)

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