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文件名称: 基础电子中的MTP预连接带状光缆的现场链路损耗测试
  所属分类: 其它
  开发工具:
  文件大小: 148kb
  下载次数: 0
  上传时间: 2020-11-11
  提 供 者: weixin_********
 详细说明:为了满足系统对带宽日益增长的需求,数据中心的主干光缆正在向更高芯数的方向发展。现在很多数据中心都在部署使用激光优化50μm多模光纤(OM3)的带状光缆来满足这个需求,以便在将来可升级到更高的数据传输速率,例如承载100G并行光信号。此外,因带状光缆具有更加紧凑的光缆结构可以满足高密度连接的设计标准要求,以便获得最大的线槽和空间利用率,很多数据中心正在向选用带状光缆过渡。例如一根144芯紧套光缆所占用的有效面积是一根同样芯数带状光缆的3.5倍。相对铜缆而言,一根216芯的水平光缆只占用与两到三根CAT 6a UTP铜缆相似的有效面积。   现场链路损耗测试可为带状光缆安装后的性能提供量化的测量
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