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上传时间: 2020-11-18
详细说明：发光二极管（LED）常被用于各种现代电子设计与系统中，以提供影像显示与状态检视的功能。在机板日趋复杂之际，厂商纷纷寻求更多的测试功能，来检验每个组件。而这将会使得边界扫瞄测试（Boundary Scan Test；BST）演进到加入具备完整功能的内建自我测试（Build-in Self Test；BIST）技术。业者面临的挑战在于至今仍有一些组件的自动测试功能有限，必须依赖人工测试或目测来侦测故障状况。这类LED可制造出1美元成本的零组件，应用在售价达1万美元的线路卡或系统中，因此，零组件品质的优劣会直接影响顾客满意度，以及对整体产品品质的观感。
LED测试瓶颈
LED的故障通常可
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