文件名称:
电子测量中的可降低下一代IC测试成本的确定性逻辑内置自测技术
开发工具:
文件大小: 118kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-12-09
详细说明：20世纪70年代随着微处理器的出现，计算机和半导体供应商逐渐认识到，集成电路需要在整个制造过程中尽可能早地进行测试，因为芯片制造缺陷率太高，不能等到系统装配好后再测试其功能是否正确，所以在IC做好之后就应对它进行测试，一般在自动测试设备上采用仿真完整系统激励和响应的功能测试方案进行。 功能测试使制造过程更加经济高效，因为可以保证装配好的电路板和系统都是由已知完好的部件构成，所以成品工作正常的可能性更高。功能测试代表了第一代IC测试，广泛应用了近二十年。随着电子产品越来越复杂专业，专用集成电路(ASIC)成为数字测试的重点，这种电路的开发周期更短，需要新的测试方法。 20世纪90年代初期，创
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)
下载文件列表
相关说明
- 本站资源为会员上传分享交流与学习,如有侵犯您的权益,请联系我们删除.
- 本站是交换下载平台，提供交流渠道，下载内容来自于网络，除下载问题外，其它问题请自行百度。
- 本站已设置防盗链，请勿用迅雷、QQ旋风等多线程下载软件下载资源，下载后用WinRAR最新版进行解压.
- 如果您发现内容无法下载，请稍后再次尝试；或者到消费记录里找到下载记录反馈给我们.
- 下载后发现下载的内容跟说明不相乎，请到消费记录里找到下载记录反馈给我们，经确认后退回积分.
- 如下载前有疑问，可以通过点击"提供者"的名字，查看对方的联系方式，联系对方咨询.
