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上传时间: 2020-12-08
详细说明：1 引言 边界扫描技术已成为了VLSI和ASIC测试的重要方法，但是，尽管边界扫描器件越来越多，非边界扫描器件仍然大量存在。在复杂电路设计中，VLSI和ASIC虽然能够完成电路的许多功能，但并不是所有的逻辑功能都可以集成，相当多的功能仍需要采用分离器件或通用集成电路实现，而它们很少支持边界扫描。因此，由边界扫描器件和非边界扫描器件组装的非完全BS器件电路板仍将在今后相当长时间内广泛存在，它们的测试问题已成为板级边界扫描测试技术需要研究的关键问题。随机存取存储器（RAM）是一种应用极为广泛的电子元件，但由于成本和结构复杂性的原因，RAM的的设计很少包含边界扫描结构，设计中也无法用其他器件所替代。
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