文件名称:
EDA/PLD中的基于FPGA系统易测试性的研究
开发工具:
文件大小: 150kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-12-07
详细说明：引 言
现代科技对系统的可靠性提出了更高的要求，而FPGA技术在电子系统中应用已经非常广泛，因此FPGA易测试性就变得很重要。要获得的FPGA内部信号十分有限、FPGA封装和印刷电路板(PCB)电气噪声，这一切使得设计调试和检验变成设计中最困难的一个流程。另一方面，当前几乎所有的像CPU、DSP、ASIC等高速芯片的总线，除了提供高速并行总线接口外，正迅速向高速串行接口的方向发展，FPGA也不例外。每一条物理链路的速度从600 Mbps到10 Gbps，高速I／O的测试和验证更成为传统专注于FPGA内部逻辑设计的设计人员所面临的巨大挑战。这些挑战使设计人员非常容易地将绝大部分设计时间放
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