文件名称:
工业电子中的基于试验设计技术的IC优化设计
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文件大小: 210kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-12-04
详细说明：摘要：现代集成电路(IC)的优化设计主要依靠EDA工具完成。但是针对多指标、多参数的IC设计，单纯依靠EDA工具存在效率低以及指标和参数个数限制等问题。从试验设计技术出发，以EDA仿真作为实验，建立指标与参数的统计模型，进而优化设计电路，解决了上述问题。将该方法应用于4参数、3指标的低功耗集成运放的设计，仅通过16轮仿真试验，得到了电路指标最优情况下的参数设置。该方法对多指标、复杂参数的集成电路的优化设计更具优越性。
关键词：试验设计技术；统计模型；低功耗集成运放；仿真试验
集成电路设计与优化时，在基本功能实现的情况下为了使电路指标符合要求或者达到最优，我们将调整许多参数，如电路元
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