这项工作旨在模拟在空气中氧化物层在800到910 K的温度范围内生长过程中铝1060的正常光谱发射率。因此，已在6小时的加热条件下测量了铝1060的正常光谱发射率。在一定温度下的周期。 在我们的实验中，来自样品的辐射被InGaAs光电二极管检测器接收， 作品 在 1.5 微米 和 这 带宽 的 20 纳米 这 温度 的 样品 表面 是 通过平均对称焊接在前表面的两个铂铑热电偶来测量 的 样品 靠近 这 测量 区域 由检测器查看。 强 振荡 正常的 光谱发射率 有 是 观测到的 和 讨论过 确认已