增加了对ifr a me,scr ipt的检查，可以恢复被大量置入ifr a me的网页。免得手动去删除的麻烦。 virus_lib.asp增加了对ifr a me,scr ipt的控制参数分别为： Const removeifr a me=true '是否检查ifr a me Const ifr a meKey="3322" 'ifr a me 中的关键字，如果出现系统将自动清除 Const removescr ipt=true '是否检查scr ipt Const scr iptKey="
扫描设计是一种广泛采用的可测性设计方法。在采用扫描设计的电路中，扫描单元及其控制电路芯片面积可能占到30%，引起的故障总数可能占到50%。因此扫描链的诊断对于逻辑诊断具有重要的意义。本文综述了在采用扫描结构的集成电路中，扫描链的诊断方法。一类方法采用了可诊断性设计（Design For Diagnosis， DFD），类似于可测试性设计。可诊断设计在扫描结构当中加入额外的硬件电路，以提高扫描链的可观测性或者可控性。另一类是软件诊断方法，通过施加诊断向量观察故障输出，利用算法推测故障位置。最后介
基于扫描的DFT对芯片测试的影响
http:www.guangdongdz.com 2006-05-06
引言随着ASIC电路结构和功能的日趋复杂，与其相关的测试问题也日益突出。在芯片测试方法和测试向量生成的研究过程中,如何降低芯片的测试成本已经成为非常重要的问题。DFT(可测性设计)通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测性的逻辑，从而使芯片变得容易测试，大大降低了芯片的测试成本。目前比较成熟的可测性设计主要有扫描设计、边界扫描设计、BIST（Built In Sel
