半导体测试技术，测试相关文献技术资料，可以指导使用The handler or prober can also generate a Retest signal, indicating that
the part is untestable and should simply be rejected. This signal is
currently ignored by Win92, although it can be detected using Send
command programm
1----测试简介2----测试硬件简介－－－测试机(tester)3----测试硬件简介－－－测试手臂(handler and prober)4----测试硬件简介－－－探针卡(prober card)5----测试硬件简介－－－测试座(socket)6----测试硬件简介－－－测试板(loadboard and WPI)7----测试方法简介－－－开短路测试(openshort)8----测试方法简介－－－漏电路测试(Pin leakage)9----测试方法简介－－－level测试(VIL
探针卡(prober card) 是晶圆测试(wafer test)中被测芯片和测试机之间的接口.探针卡对前期测试的开发及后期量产测试的良率的保证都非常重要.一.下面介绍一常见的几类探针卡。1.Blade Type : Under 70 pins,low speed LOW CURRENT PROBING PROBING AT EXTREME TEMPERATURES: > 200ºC RF PROBING: > 3 GHZ Low cost Lead time 1 day刀
