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  1. 3d-rram 存储技术

  2. NAND闪存在25nm工艺之后出现了严重的性能下滑、寿命缩短问题,RRAM则可以一路走到5nm甚至更远。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2014-06-03
    • 文件大小:6mb
    • 提供者:shookesky
  1. Circuit Design, Architecture and CAD for RRAM-based FPGAs

  2. 《Circuit Design, Architecture and CAD for RRAM-based FPGAs》
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2019-03-01
    • 文件大小:10mb
    • 提供者:qq_33304345
  1. 新兴的非易失性内存体系结构的高速缓存优化方法:一项调查

  2. 随着半导体Craft.io的发展,处理器集成的片上缓存越来越大,传统存储器件的漏电引起的问题日益严峻,如何设计高能效的片上存储架构已成为重要挑战。为解决这些问题,大量研究为探索自转扭矩RAM(STT-RAM),相变存储器(PCM) ,电阻RAM(RRAM)和域壁内存(DWM)新型新型插入性存储器(非易失性存储器,NVM)架构缓存的方法,对比了其与传统存储器件的物理特性,讨论了其架构缓存的优缺点和适用性,重点分类并汇总了其架构缓存的优化方法和策略,分析了其中针对的新型插入性存储器写入高,写寿命有限
  3. 所属分类:其它

  1. 基于HfO2的RRAM的渐进式单极RESET过渡中的电压和功率控制机制

  2. 基于HfO2的RRAM的渐进式单极RESET过渡中的电压和功率控制机制
  3. 所属分类:其它

  1. 氧化物击穿渗滤模型启发的RRAM集合统计模型

  2. 氧化物击穿渗滤模型启发的RRAM集合统计模型
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-24
    • 文件大小:600kb
    • 提供者:weixin_38667835
  1. 用于高密度电阻存储应用的双极一二极管一电阻器集成

  2. 与常规的单极型1D-1R RRAM器件不同,提出了双极型1D-1R存储器件的概念,并通过将Ni / TiOx / Ti二极管和Pt / HfO2 / Cu双极RRAM单元集成在一起来成功抑制了不希望有的现象。在交叉点阵列中潜行电流。双极1D-1R存储器件不仅通过Ni / TiOx / Ti二极管的反向偏置电流实现了自兼容的电阻开关特性,而且还具有出色的双极性电阻开关特性,例如开关均匀,令人满意的数据保持能力和出色的可扩展性,这为高密度集成非易失性存储器应用提供了很大的潜力。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-20
    • 文件大小:607kb
    • 提供者:weixin_38690830
  1. RRAM-SPICE-Retention:使用SPICEVerilog-A模型进行RRAM保留建模-源码

  2. RRAM-SPICE-保留 使用SPICE / Verilog-A模型进行RRAM保留建模
  3. 所属分类:其它

  1. 基于带有印刷Ag电极的旋涂a-IGZO薄膜的RRAM器件的电阻开关特性

  2. 在这项工作中,主要基于基于溶液的合成方法制造了具有Ag / a-IGZO / ITO结构的存储器件。 具体地,通过旋涂IGZO墨水制备IGZO薄膜,并且通过喷墨印刷形成顶部Ag电极。 电气测量表明,Rorr / RoN比超过了两个数量级,并且器件的电阻可以保持高达105s,而不会劣化。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-13
    • 文件大小:296kb
    • 提供者:weixin_38631329
  1. 合并界面:电源; 基于RRAM交叉开关的混合信号计算系统的面积和精度协同优化

  2. 合并界面:电源; 基于RRAM交叉开关的混合信号计算系统的面积和精度协同优化
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-12
    • 文件大小:650kb
    • 提供者:weixin_38562392
  1. 通过导电丝的横向溶解来克服RESET电流和RRAM数据保持之间的难题

  2. 通过导电丝的横向溶解来克服RESET电流和RRAM数据保持之间的难题
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-11
    • 文件大小:905kb
    • 提供者:weixin_38685455
  1. RRAM基氧化物材料的TID效应

  2. RRAM在TID辐射下表现出高度稳定的特性。 但是辐射不同效果在基于RRAM的不同氧化物中显示。 基于RRAM的辐射效应对HfO2和SiO2进行了测试和分析。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-06
    • 文件大小:539kb
    • 提供者:weixin_38552305
  1. 重离子辐射对Pt / HfO2 / Ti电阻开关记忆的影响

  2. 在此概述中,研究了具有Pt / HfO2 / Ti结构的电阻式随机存取存储器(RRAM)在辐射环境中的应用。 使用HIRFL(兰州的重离子研究设施)的重离子86Kr26 +作为辐射源。 86Kr26 +的能量为25 MeV / u,LET的能量为37.6 MeV /(cm2 / mg),辐射后获得5e11的能量密度。 在辐射之前和之后比较Pt / HfO2 / Ti的基本电性能。 辐射后的原始电阻值显示出明显的降低,并且不再需要形成过程。 辐射后,HRS,LRS,过渡电压和耐力仍然稳定。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-06
    • 文件大小:342kb
    • 提供者:weixin_38629362
  1. RRAM的氧空位与金属细丝机制SPM的比较

  2. RRAM的氧空位与金属细丝机制SPM的比较
  3. 所属分类:其它

  1. 通过导电丝的横向溶解来克服RESET电流和RRAM数据保持之间的难题

  2. 具有低开关电流的电阻式开关存储器对于低功耗应用至关重要。 在这封信中,我们成功地演示了具有超低开关电流的四端电阻RAM器件。 该设备通过一对电极设置,并通过另一对电极重置。 导电丝的断裂过程可以由侧向电场主导的电化学React引起。 因此,在RESET过程中,没有电流流过灯丝,从而导致超低开关电流。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-03
    • 文件大小:970kb
    • 提供者:weixin_38530202
  1. 使用RRAM刺激神经网络:我们可以将其用于实际应用吗?

  2. 使用RRAM刺激神经网络:我们可以将其用于实际应用吗?
  3. 所属分类:其它

  1. Energy Efficient RRAM Spiking Neural Network for Real Time Classification

  2. Energy Efficient RRAM Spiking Neural Network for Real Time Classification
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-22
    • 文件大小:770kb
    • 提供者:weixin_38656103
  1. First principle simulations on the effects of oxygen vacancy in HfO2-based RRAM

  2. First principle simulations on the effects of oxygen vacancy in HfO2-based RRAM
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-22
    • 文件大小:13mb
    • 提供者:weixin_38624557
  1. Testing of 1TnR RRAM arraywith sneak path technique

  2. Testing of 1TnR RRAM arraywith sneak path technique
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-11
    • 文件大小:137kb
    • 提供者:weixin_38699724
  1. 基于RRAM的混合存储模型

  2. 传统的DRAM受其存储密度、工艺尺寸限制已不能满足大数据时代对海量信息存储的需求。针对这一问题,提 出一种混合存储模型。在传统内存结构的基础上,引入阻变存储器 (RRAM)作为同级存储设备,利用其存储密度高、扩 展性强、非易失性等特性提高内存系统的容量和可靠性。通过构建混合内存控制器,合理分发请求,利用DRAM快速的 写效率特性弥补新型存储器写延迟的缺点。在测试集PARSEC下对混合内存系统的读写性能进行测试与分析,验证了混合 存储模型有效性。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-07
    • 文件大小:927kb
    • 提供者:weixin_38534352
  1. 基于HfO2的单极RRAM器件中的逐周期固有RESET统计信息

  2. 基于HfO2的单极RRAM器件中的逐周期固有RESET统计信息
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-20
    • 文件大小:602kb
    • 提供者:weixin_38590567
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