FPGA以其集成度高、灵活性强、开发周期短的特点，在航天领域得到了越来越广泛的应用。然而，其工作的空间环境存在着大量γ光子、辐射带电子、高能质子等高能粒子。这些高能粒子轰击到器件上，会产生总剂量效应（Total Ionizing Dose， D）、单粒子翻转（Single Event Upset， SEU）、单粒子锁定（Single Event Latchup， SEL）、单粒子烧毁（Single Event Bumout，SEB）、单粒子栅击穿（Single Event Gate Ruptur
