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  1. mosfet制程简介

  2. mosfet制程简介 RCA 清洗 SC1功用: 去除晶片表面 particle與polymer. SC2功用: 去除晶片表面金屬殘 留
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2012-04-14
    • 文件大小:306kb
    • 提供者:wdyuen
  1. ZT2835W0M1贴片发光二极管规格书.pdf

  2. ZT2835W0M1贴片发光二极管规格书pdf,ZT2835W0M1贴片发光二极管规格书zT2835WOM1米米米(0.2W) CRI Ranks/ CRI/ CRI Ranks/ CRI/ CR⊥ Ranks/ CRI/ 档次 显色性 档次 显色性 档次 显色性 RA70-75 RA80-8 RA90-95 RA8590 无显色要求 2 RA75-80 (Ra>60) Bin Range of Luminous Intensity亮度等级代码(T=25℃) Lumen ranks档次 u
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2019-09-13
    • 文件大小:824kb
    • 提供者:weixin_38744375
  1. Basic Die Bonding Process & Quality 芯片键合制程介绍

  2. Basic Die Bonding Process & Quality 芯片键合制程介绍 键合将两片表面清洁、原子级平整的同质或异质半导体材料经表面清洗和活化处理,在一定条件下直接结合,通过范德华力、分子力甚至原子力使晶片键合成为一体的技术。
  3. 所属分类:制造

    • 发布日期:2020-11-02
    • 文件大小:1mb
    • 提供者:fishpupil
  1. 硅-硅直接键合工艺

  2. 硅-硅直接键合技术就是将两个抛光硅片经化学清洗和活化处理后在室温下粘贴在一起,再经过高温退火处理,使键合界面发生物理化学反应,形成强度很大的化学共价键连接,增加键合强度而形成一个整体。该技术具有工艺简单,两键合硅片的晶向、电阻率和导电类型可自由选择,与半导体工艺完全兼容,并且键合强度大,键合后的界面可以承受磨片、抛光和高温处理等优点。自1985年Lasky首次报道以来,该技术得到广泛重视与快速发展[1]。如今,硅-硅直接键合技术已经广泛应用于SOI、MEMS和电力电子器件等领域[2]。 硅-硅直
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-10
    • 文件大小:64kb
    • 提供者:weixin_38690095
  1. 半导体硅片DHF清洗技术

  2. a. 在DHF洗时,可将由于用SC-1洗时表面生成的自然氧化膜腐蚀掉,而Si几乎不被腐蚀。b. 硅片最外层的Si几乎是以 H 键为终端结构,表面呈疏水性。c. 在酸性溶液中,硅表面呈负电位,颗粒表面为正电位,由于两者之间的吸引力,粒子容易附着在晶片表面。d. 去除金属杂质的原理:① 用HF清洗去除表面的自然氧化膜,因此附着在自然氧化膜上的金属再一次溶解到清洗液中,同时DHF清洗可抑制自然氧化膜的形成。故可容易去除表面的Al、Fe、Zn、Ni等金属。但随自然氧化膜溶解到清洗液中一部分Cu等贵金属(
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-09
    • 文件大小:51kb
    • 提供者:weixin_38722607
  1. 半导体硅片SC-2清洗技术

  2. 1 清洗液中的金属附着现象在碱性清洗液中易发生,在酸性溶液中不易发生,并具有较强的去除晶片表面金属的能力,但经SC-1洗后虽能去除Cu等金属,而晶片表面形成的自然氧化膜的附着(特别是Al)问题还未解决。2 硅片表面经SC-2液洗后,表面Si大部分以 O 键为终端结构,形成一层自然氧化膜,呈亲水性。3 由于晶片表面的SiO2和Si不能被腐蚀,因此不能达到去除粒子的效果。a.实验表明:  据报道将经过SC-2液,洗后的硅片分别放到添加Cu的DHF清洗或HF+H2O2清洗液中清洗、硅片表面的Cu浓度用
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-09
    • 文件大小:32kb
    • 提供者:weixin_38629391
  1. 晶片表面清洗

  2. 洁净的晶片是芯片生产全过程中的基本要求,但并不是在每个高温下的操作前都必须进行。一般说来,全部工艺过程中的高达20%的步骤为晶片清洗。25在这里将要描述的清洗工艺,将贯穿芯片生产的全过程。 半导体工艺的发展过程在很多方面可以说是清洗工艺随着对无污染晶片需求不断增长而发展的过程。晶片表面有四大常见类型的污染,每一种在晶片上体现为不同的问题,并可用不同的工艺去除。这四种类型是: 1. 颗粒 2. 有机残余物 3. 无机残余物 4. 需要去除的氧化层 通常来说,一个晶片清洗的工艺或一系列的工艺,必须
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-09
    • 文件大小:64kb
    • 提供者:weixin_38660058
  1. 晶片刷洗器

  2. 晶片外延生长对于晶片清洁程度的严格要求导致了机械的晶片表面洗刷器的发展。同时这一方法也被用在非常关键的颗粒去除中。 刷洗器将晶片承载在一个旋转的真空吸盘上(图5.25)。在一般去离子水直接冲洗晶片表面的同时,一个旋转的刷子近距离地接触旋转的晶片。刷子和晶片旋转的结合在晶片表面产生了高能量的清洗动作。液体被迫进入晶片表面和刷子末端之间极小的空间,从而达到很大的速度,以辅助清洗。必须注意的是,要保持刷子和清洗液道路的清洁以防止第二污染。另外,刷子到晶片的距离要保持一定以防止在晶片表面造成划痕。 在去
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-09
    • 文件大小:35kb
    • 提供者:weixin_38682086
  1. 高压水清洗

  2. 对由于静电作用附着的颗粒的去除首先成为玻璃和铬光刻掩膜板的清洗的必须。于是发展为高压水喷洒清洗。将一注小的水流施加2000~4000 PSI的压力,水流连续不断地掩膜或晶片的表面,除去大小不一的颗粒。在水流中经常加入少剂量的表面活性剂作为去静电剂。   
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-09
    • 文件大小:19kb
    • 提供者:weixin_38663973
  1. 晶片有机残余物

  2. 有机残余物是含碳的化合物,例如指纹中的油分。这些残余物可以在溶剂浸泡池中被去除,例如丙酮,乙醇或TCE。一般说来,要想将晶片表面的溶剂完全烘干非常困难,所以如果可能,会尽量避免用溶剂清洗晶片。另外,溶剂经常会有杂质,从而使其本身成为了污染源。   
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-09
    • 文件大小:21kb
    • 提供者:weixin_38667581
  1. 无机残余物

  2. 无机残余物是那些不含碳的物质。这样的例子有无机酸,如盐酸,氢氟酸。它们会在晶片制造的其它工序中介绍。关于晶片表面有机物和无机物的去除,有一系列的清洗方案,将在下面的部分介绍。   
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-09
    • 文件大小:16kb
    • 提供者:weixin_38612304
  1. 常见的化学清洗

  2. 硫酸。一种常见的清洗溶液是热硫酸添加氧化剂。它也是一种通常的光刻胶去除剂(见第8章)。在90~125 OC的范围中,硫酸是一种非常有效的清洗剂。在这样的温度下,它可以去除晶片表面大多数无机残余物和颗粒。添加到硫酸中的氧化剂用来去除含碳的残余物,化学反应将碳转化成二氧化碳,后者以气体的形式离开反应池: C + O2 à CO2 (气体) 一般使用的氧化剂有: 过氧化氢(H2O2),亚硫酸氨 ,硝酸(HNO3),和臭氧(O3) 硫酸和过氧化氢。过氧化氢和硫酸混合制成一种常见的清洗液,用于各个工艺过程
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-09
    • 文件大小:48kb
    • 提供者:weixin_38659955
  1. 室温和氧化的化学物质

  2. 理想的清洗工艺是应用那些完全安全、易于并比较经济地进行处理的化学品,并且在室温下进行。这种工艺并不存在。然而,关于室温下化学反应的研究正在进行。其中一种37是将臭氧与另外两种浓度的氢氟酸溶液(图5.27)在室温下注入盛有超纯净水的清洗池。超声波作为辅助以提高清洗的有效性。 喷洒清洗。标准的清洗技术是浸泡在湿法清洗台或全自动机器中的化学池中进行的。当湿法清洗被应用到0.35到0.50微米的技术时代时,也相应出现了一些顾虑。化学品越来越多,浸泡在池中会导致污染物的再次沉积,而且晶片表面越来越小,越来
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-09
    • 文件大小:55kb
    • 提供者:weixin_38547887
  1. 水的冲洗

  2. 每一步湿法清洗的后面都跟着一点去离子水的冲洗。清水冲洗具有从表面上去除化学清洗液和终止氧化物的刻蚀反应的双重功效。冲洗可用几种不同的方法来实现。未来的焦点集聚在提高冲洗效果和减少水的用量上。1997年的NTRS声称,到2010年争取实现在尺寸为50纳米的器件上(水用量由目前的30 加仑/每平方英寸硅片减少到2加仑/每平方英寸硅片)。每平方英寸硅片的水用量由目前的30 加仑减少到2010年的2 加仑。 溢流式清洗器。自动的表面清洗并不是单独地将晶片浸泡在—池水中。完全的彻底的冲洗需要晶片表面有清洗
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-09
    • 文件大小:75kb
    • 提供者:weixin_38638309
  1. 污染控制概述

  2. 概述 在这一章中, 我们将解释污染对器件工艺生产,器件性能和器件的可靠性的影响, 以及芯片生产区域存在的污染类型和主要的污染源。同时,也将对洁净室规划,主要的污染控制方法和晶片表面的清洗工艺进行讨论。 目的 完成本章后您将能够: 1. 识别污染在半导体器件及其工艺生产中的三大主要影响。 2. 列出芯片工艺生产中的主要污染源。 3. 定义洁净室的洁净等级。 4. 列举等级分别为100,10 和1的芯片生产区域的微尘密度。 5. 描述正压环境,风淋室以及粘着地板垫(译者注:FAB入口处用以粘除脚底的
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-09
    • 文件大小:48kb
    • 提供者:weixin_38620734
  1. 温度, 湿度及烟雾污染

  2. 除了控制颗粒,空气中温度,湿度和烟雾的含量也需要规定与控制。温度控制对操作员的舒适性与工艺控制是很重要的。许多利用化学溶剂来做刻蚀与清洗的工艺都在没有温度控制的设备箱内完成,只依赖于洁净室温度的控制。这种控制非常重要,因为化学反应会随温度的变化而不同,例如,每升高十摄氏度,刻蚀速率参数加二。通常的室温为72华氏度,上下幅度两度。   相对湿度也是一个非常重要的工艺参数,尤其在光刻工艺中。 在这个工艺中,要在晶片表面镀上一层聚合物作为刻蚀膜版。如果湿度过大,晶圆表面太潮湿,会影响聚合物的结合,就象
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-09
    • 文件大小:40kb
    • 提供者:weixin_38729607
  1. 工业电子中的晶片键合质量的红外检测系统设计

  2. 晶片键合质量的红外检测系统设计 http:www.guangdongdz.com  2007-1-16   来源:半导体技术  作者:周平 廖广兰 史铁林 汤自荣 聂磊 林晓辉 1 引言 晶片直接键合技术就是把两片镜面抛光晶片经表面清洗和活化处理,在室温下直接贴合,再经过退火处理增加结合强度而成为一个整体的技术。该技术不需要任何粘合剂,两键合片的电阻率和导电类型可以自由选择,工艺简单,是制备复合材料及实现微机械加工的最优手段[1]。它往往与其他手段结合使用,既可对微结构进行
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-13
    • 文件大小:105kb
    • 提供者:weixin_38688352
  1. 硅晶片研磨之后的清洗工艺

  2. 本发明的工艺一般涉及到半导体晶片的清洗。更确切地说,本发明涉及到可能存在于被研磨的单晶硅晶片的表面上的有机残留物、金属杂质和其它特定的沾污物的清洗处理步骤的顺序。
  3. 所属分类:制造

    • 发布日期:2020-12-23
    • 文件大小:50kb
    • 提供者:jfkj2021